(электроника, схемотехника, тестирование, надёжность электронных компонентов)
Open in Telegram
Статьи, видео, книги, заметки. Склад документов канала @jxhtrc
Show more522
Subscribers
No data24 hours
No data7 days
+1230 days
Posts Archive
NASA Electronic Parts and Packaging
Guidelines for Selection of Ceramic Capacitors for Space Applications
Cracking Problems in Low-Voltage Chip Ceramic Capacitors
Alexander Teverovsky
2018
Abstract Cracking remains the major reason of failures in multilayer ceramic capacitors (MLCCs) used in space electronics. Due to a tight quality control of space-grade components, the probability that as manufactured capacitors have cracks is relatively low, and cracking is often occurs during assembly, handling and the following testing of the systems. Majority of capacitors with cracks are revealed during the integration and testing period, but although extremely rarely, defective parts remain undetected and result in failures during the mission. Manual soldering and rework that are often used during low volume production of circuit boards for space aggravate this situation. Although failures of MLCCs are often attributed to the post-manufacturing stresses, in many cases they are due to a combination of certain deviations in the manufacturing processes that result in hidden defects in the parts and excessive stresses during assembly and use. This report gives an overview of design, manufacturing and testing processes of MLCCs focusing on elements related to cracking problems. The existing and new screening and qualification procedures and techniques are briefly described and assessed by their effectiveness in revealing cracks. The capability of different test methods to simulate stresses resulting in cracking, mechanisms of failures in capacitors with cracks, and possible methods of selecting capacitors the most robust to manual soldering stresses are discussed.#NASA #appnote #MLCC
3.21 выброс (outlier): Элемент совокупности значений, который несовместим с остальными эле-
ментами данной совокупности.
Примечание 18 — Статистические критерии (меры и уровни значимости), используемые для
идентификации выбросов в экспериментах по оценке правильности и прецизионности, описаны в
ГОСТ Р ИСО 5725-2.
3.6 точность (accuracy): Степень близости результата измерений к принятому опорному
значению.
П римечание 2 — Термин «точность», когда он относится к серии результатов измерений
(испытаний), включает сочетание случайных составляющих и общей систематической погрешности
(ИСО 3534-1 [1]).
3.7 правильность (trueness): Степень близости среднего значения, полученного на основании большой
серии результатов измерений (или результатов испытаний), к принятому опорному значению.
Примечания
3 Показателем правильности обычно является значение систематической погрешности.
4 Правильность понимают иногда как «точность среднего значения». Однако такое употребление не
рекомендуется [ИСО 3534-1] [1].
Термин «правильность» в отечественных нормативных документах до настоящего времени не применялся.
В рамках обеспечения единства измерений термин «правильность (trueness)»— степень близости результата
измерений к истинному (действительному) значению измеряемой величины или в случае отсутствия эталона измеряемой величины— степень близости среднего значения, полученного на основании большой серии результатов измерений (или результатов испытаний), к принятому опорному значению.
3.8 систематическая погрешность (bias): Разность между математическим ожиданием результатов
измерений и истинным (или в его отсутствие — принятым опорным) значением.
Примечание 5 — Большее систематические отклонение от принятого опорного значения находит
свое отражение в большем значении систематической погрешности [ИСО 3534-1] [1].
1 Определение термина «bias», содержащееся в 3.8 ГОСТ Р ИСО 5725-1 и примечании 5, фактически
соответствует понятию «систематическая погрешность (systematic error)», приведенному в 3.14 Международного
словаря терминов в метрологии (VIM) [4]. Термин «bias (of a measuring instrument)» в VIM (5.25) определен как
«смещение (неправильность средства измерений) — систематическая погрешность в показании средства
измерений».
2 В качестве составляющих систематической погрешности измерений выделяют неисключенную системати-
ческую погрешность (НСП) (9.7РМ Г29[3]), составляющую систематической погрешности измерений, обусловлен-
ную несовершенством реализации принятого принципа измерений (9.4 РМГ 29) и 3.10 ГОСТ Р ИСО 5725-1), погреш-
ность градуировки применяемого средства измерений (9.22 РМГ 29) и др.
3 Если математическое ожидание систематической погрешности известно и постоянно, то в результат изме-
рений вносят соответствующую поправку. Знак поправки противоположен знаку погрешности.
Когда систематическая погрешность пропорциональна значению измеряемой величины, то с целью исключения
влияния систематической погрешности используют поправочный множитель (числовой коэффициент— correction
factor), на который умножают неисправленный результат измерений (см. также 3.16 VIM и 9.18 РМГ 29).
3.12 прецизионность (precision): Степень близости друг к другу независимых результатов измере-
ний, полученных в конкретных регламентированных условиях.
Примечания
9 Прецизионность зависит только от случайных погрешностей и не имеет отношения к истинному или
установленному значению измеряемой величины.
10 Меру прецизионности обычно выражают в терминах неточности и вычисляют как стандартное от-
клонение результатов измерений. Меньшая прецизионность соответствует большему стандартному отклоне-
нию.
11 «Независимые результаты измерений (или испытаний)» — результаты, полученные способом, на
который не оказывает влияния никакой предшествующий результат, полученный при испытаниях того же
самого или подобного объекта. Количественные значения мер прецизионности существенно зависят от регла-
ментированных условий. Крайними случаями совокупностей таких условий являются условия повторяемости
и условия воспроизводимости (ИСО 3534-1 [1]).
20240202thermaljumpers2.pdf4.66 KB
thjp-1709843.pdf1.64 KB
an2606_introduction_to_system_memory_boot_mode_on_stm32_mcus_st.pdf6.69 MB
spry349 (1).pdf8.60 KB
#vibration
#basic
#youtube
Sine Random Shock Difference Visualized
#youtube
#vibration
An-Introduction-to-Sentek-Dynamics-Vibration-Testing-Systems.pdf
Ожидание:
Реальность: методичка по ТОЭ
Edit, Sign and Share PDF files on the go. Download the Acrobat Reader app: https://adobeacrobat.app.link/Mhhs4GmNsxb
starlink_batteries_reliability_lessons_from_10000_leo_satellites.pdf1.46 MB
